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产品名称:ITC57300动态测试仪替代品易恩IGBT动态参数测试
EN-2020A半导体器件动态参数测试系统
IGBT是广泛应用于现代中、大功率变换器中的主流半导体开關器件其开关特性决定装置的开关损耗、功率密度、器件应力以及电磁兼容性,直接影响变换器的性能因此准确测量功率开关元件的開关性能具有极其重要的实际意义。
EN-2020A半导体器件动态参数测试系统该系统是针对IGBT器件的开关性特性及IGBT内部续流二极管的反向恢复特性而專门设计的一套全自动测试系统,适用于电流不超过1500A和集电极电压不超过3500V的IGBT器件开关时间测试以及正向电流不超过2000A的二极管反向恢复特性嘚测试
环境温度:15~40℃
电网电压:AC220V±10%无严重谐波
5000PA的品牌空压机供气。 |
二极管反向恢复测试Drr |
华科智源专业研发生产半导体测試设备提供ITC57300mos管工作原理IGBT功率器件动态参数测试仪,大功率IGBT到小功率管MOS的测试 包括动态参数和静态参数测试,雪崩能量测试以及热阻测試 索取相关资料和报价请联系陈先生
ITC57300是美国ITC公司设计生产的高集成度功率半导体分立器件动态参数测试设备,采用测试主机+功能测试头+個性板的测试架构可以满足N沟道、P沟道器件、双极晶体管等的各项动态参数的测试要求,且具有波形实时显示分析功能是目前具领先沝平的完备可靠的动态参数测试设备。
ITC57300动态参数测试系统主机可执行非破坏性的瞬态测量测试包括对半导体器件绝缘栅双极晶体管(IGBT),功率MOSFET二极管,双极型器件的测试头主机包括所有测试设备和必要的软件分析,可执行电阻和电感的开关时间开关损耗,栅极电荷TRR /的Qrr和其他瞬态测试。