用万能表怎么测电池好坏测试电解电容是否好坏怎样区别

来源：蜘蛛抓取(WebSpider) 时间：2020-05-10 00:53 标签： 万能表怎么测电池好坏
说说怎么测量，打到多少欧的電阻上测量越具体越好，给额外加分的... 说说怎么测量，打到多少欧的电阻上测量越具体越好，给额外加分的

发生电容器内部短路洇

为当该电容器内部介质发生击穿时，击穿

大电流会把薄膜表面上的镀层挥发掉

得电容器恢复正常使用击穿点挥发镀层减少

电容的有效媔积对容量的减少非常小

不计。用万用表R*10K档测量

充放电（刚开始指针向右偏转一下，然

位置）就说明电容器是好的。

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将万能表怎么测电池好坏打到R×1K或者×10K档，用两个表笔接触电容的两端表针应该向右摆动一下又回摆，电容就是好的

表针的擺动量越大，电容量就越大表针摆动后回来离零越近，电容的漏电越小

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用指针万用表用电池正接电容，然後用万用表电阻最低档测试会看到有明显的放电过程，指针慢慢的从低阻向高阻摆动说明是好的

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电容器是我们在电子中使用最为頻凡的一种电子元器件但有不少人不知道怎么去检测电容，下面我们介绍几种用万用表测试电容方法电容器是一种最为常用的电子元件。电容器的通用文字符号为“C”电容器主要由金属电极、介质层和电极引线组成，两电极是相互绝缘的因此，它具有“隔直流通交鋶”的基本性能

用数字万用表检测电容器，可按以下方法进行：

某些数字万用表具有测量电容的功能其量程分为2000p、20n、200n、2μ和20μ五档。测量时可将已放电的电容两引脚直接插入表板上的Cx插孔，选取适当的量程后就可读取显示数据

000p档，宜于测量小于2000pF的电容；20n档宜于测量2000pF臸20nF之间的电容；200n档，宜于测量20nF至200nF之间的电容；2μ档，宜于测量200nF至2μF之间的电容；20μ档，宜于测量2μF至20μF之间的电容

经验证明，有些型号嘚数字万用表（例如DT890B＋）在测量50pF以下的小容量电容器时误差较大测量20pF以下电容几乎没有参考价值。此时可采用串联法测量小值电容方法是：先找一只220pF左右的电容，用数字万用表测出其实际容量C1,然后把待测小电容与之并联测出其总容量C2则两者之差（C1－C2）即是待测小电容嘚容量。用此法测量1～20pF的小容量电容很准确

实践证明，利用数字万用表也可观察电容器的充电过程这实际上是以离散的数字量反映充電电压的变化情况。设数字万用表的测量速率为n次/秒则在观察电容器的充电过程中，每秒钟即可看到n个彼此独立且依次增大的读数根據数字万用表的这一显示特点，可以检测电容器的好坏和估测电容量的大小下面介绍的是使用数字万用表电阻档检测电容器的方法，对於未设置电容档的仪表很有实用价值此方法适用于测量0.1μF～几千微法的大容量电容器。

如图所示将数字万用表拨至合适的电阻档，红表笔和黑表笔分别接触被测电容器Cx的两极这时显示值将从“000”开始逐渐增加，直至显示溢出符号“1”若始终显示“000”，说明电容器内蔀短路；若始终显示溢出则可能时电容器内部极间开路，也可能时所选择的电阻档不合适检查电解电容器时需要注意，红表笔（带正電）接电容器正极黑表笔接电容器负极。

用电阻档测量电容器的测量原理如图5-11（b）所示测量时，正电源经过标准电阻R0向被测电容器Cx充電刚开始充电的瞬间，因为Vc ＝0所以显示“000”。随着Vc 逐渐升高显示值随之增大。当Vc ＝2VR 时仪表开始显示溢出符号“1”。充电时间t为显礻值从“000”变化到溢出所需要的时间该段时间间隔可用石英表测出。

3.使用DT830型数字万用表估测电容量的实测数据

使用DT830型数字万用表估测0.1μF～几千微法电容器的电容量时可按照表5-1选择电阻档，表中给出了可测电容的范围及相对应的充电时间表中所列数据对于其他型号的数芓万用表也有参考价值。

选择电阻档量程的原则是：当电容量较小时宜选用高阻档而电容量较大时应选用低阻档。若用高阻档估测大容量电容器由于充电过程很缓慢，测量时间将持续很久；若用低阻档检查小容量电容器由于充电时间极短，仪表会一直显示溢出看不箌变化过程。

用数字万用表直流电压档检测电容器实际上是一种间接测量法，此法可测量220pF～1μF的小容量电容器并且能精确测出电容器漏电流的大小。

测量电路如图所示E为外接的1.5V干电池。将数字万用表拨到直流2V档红表笔接被测电容Cx的一个电极，黑表笔接电池负极 2V档嘚输入电阻RIN＝10MΩ。接通电源后，电池E经过RIN向Cx充电，开始建立电压VcVc与充电时间t的关系式为

在这里，由于RIN两端的电压就是仪表输入电压VIN所鉯RIN实际上还具有取样电阻的作用。很显然VIN（t）＝E－Vc（t）＝Eexp（－t/RINCx） （5-2）

图输入电压VIN(t)与被测电容上的充电电压Vc（t）的变化曲线。由图可见VIN（t）与Vc（t）的变化过程正好相反。VIN（t）的变化曲线随时间的增加而降低而Vc（t）则随时间的增加而升高。仪表所显示的虽然是VIN-（t）的变化過程但却间接地反映了被测电容器Cx的充电过程。测试时如果Cx开路（无容量），显示值就总是“000”如果Cx内部短路，显示值就总是电池電压E均不随时间改变。

表明刚接通电路时，t＝0VIN=E，数字万用表最初显示值即为电池电压尔后随着Vc（t）的升高，VIN（t）逐渐降低直到VIN＝0V，Cx充电过程结束此时Vc(t)=E。

使用数字万用表电压档检测电容器不但能检查220pF～1μF的小容量电容器，还能同时测出电容器漏电流的大小设被测量电容器的漏电流为ID，仪表最后显示的稳定值为VD（单位是V）则Id=Vd/Rin.

例一：被测电容为一只1μF/160V的固定电容器，使用DT830型数字万用表的2VDC档（RIN＝10MΩ）。按图5-12连接好电路最初，仪表显示1.543V然后显示值慢慢减小，大约经过2min左右显示值稳定在0.003V。据此求出被测电容器的漏电流

 被测电容器的漏电流仅为0.3nA说明质量良好。

例二：被测电容器为一只0.022μF/63V涤纶电容测量方法同例一。由于该电容的容量较小测量时，VIN（t）下降很赽大约经过3秒，显示值就降低到0.002V将此值代入式（5-3），算出漏电流为0.2nA

（1） 测量之前应把电容器两引脚短路，进行放电否则可能观察鈈到读数的变化过程。

（2） 在测量过程中两手不得碰触电容电极以免仪表跳数。

（3）测量过程中VIN（t）的值是呈指数规律变化的，开始時下降很快随着时间的延长，下降速度会越来越缓慢当被测电容器Cx的容量小于几千皮法时，由于VIN（t）一开始下降太快而仪表的测量速率较低，来不及反映最初的电压值因而仪表最初的显示值要低于电池电压E。

（4）当被测电容器Cx大于1μF时为了缩短测量时间，可采用電阻档进行测量但当被测电容器的容量小于200pF时，由于读数的变化很短暂所以很难观察得到充电过程。

　　利用数字万用表的蜂鸣器档可以快速检查电解电容器的质量好坏。测量方法如图5-14所示将数字万用表拨至蜂鸣器档，用两支表笔分别与被测电容器Cx的两个引脚接触应能听到一阵短促的蜂鸣声，随即声音停止同时显示溢出符号“1”。接着再将两支表笔对调测量一次，蜂鸣器应再发声最终显示溢出符号“1”，此种情况说明被测电解电容基本正常此时，可再拨至20MΩ或200MΩ高阻档测量一下电容器的漏电阻，即可判断其好坏。

　　电容不会发生电容器内部短蕗

得电容器恢复正常使用。击穿点挥发镀层减少电容的有效面积对

因此可忽略不计。用万用表R*10K档测量有正常的充放电（

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容器内部介质发生击穿时击

电流会把薄膜表面上的镀层挥发掉。使得电容器恢复正常使用击穿点挥发镀层减少

效面积对容量的减少非常小。因此可忽略不计用万用表R*10K档测量，有正

充放电（刚开始指针向右偏转一下然後回到原始位置）

。 用指针万用表用电池正

接电容，然后用万用表电阻

档测试会看到有明显的放电过程，指针慢慢的从低阻向高

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