￥11667.0元(亚马逊价)更新于426天前
Devices and ApplicationsMaterials, Preparation and PropertiesPhysics and Fundamental Theory
&&&&Semiconductors are at the heart of modern living. Almost everything we do, be it work, travel, communication, or entertainment, all depend on some feature of semiconductor technology. Comprehensive Semiconductor Science and Technology captures the breadth of this important field, and presents it in a single source to the large audience who study, make, and exploit semiconductors. Previous attempts at this achievement have been abbreviated, and have omitted important topics. Written and Edited by a truly international team of experts, this work delivers an objective yet cohesive global review of the semiconductor world.&&&&&&&&&&&&&&&&&The work is divided into three sections. The first section is concerned with the fundamental physics of semiconductors, showing how the electronic features and the lattice dynamics change drastically when systems vary from bulk to a low-dimensional structure and further to a nanometer size. Throughout this section there is an emphasis on the full understanding of the underlying physics. The second section deals largely with the transformation of the conceptual framework of solid state physics into devices and systems which require the growth of extremely high purity, nearly defect-free bulk and epitaxial materials. The last section is devoted to exploitation of the knowledge described in the previous sections to highlight the spectrum of devices we see all around us.&&&&&&&&&&&&
&&&&Provides a comprehensive global picture of the semiconductor world&&&&
&&&&Each of the work's three sections presents a complete description of one aspect of the whole&&&&
&&&&Written and Edited by a truly international team of experts&&&&
号 京公网安备
Copyright & 2006 - 2014
All Rights Reserved&& 查看话题
求伊朗Journal of Agricultural Science and Technology (JAST)杂志的投稿经验
9月1日我在伊朗的Joural of Agricultural Science and&&Technology杂志上提交了稿件，10月1日状态更改为Manuscript Assigned to Reviewers，现在已经维持这个状态两个多月了还没有任何消息，两个星期前我向编辑部和主编发了邮件询问，但是没有任何回信。我想询问一下在投稿过程中的经验，审稿的周期有多长，还需不需要再向编辑发邮件询问？非常感谢！
姐姐啊，都是苦命的人啊。。。。:cry: 请问下，你论文现在怎么样了，我的3月12日反馈修改了到现在还没消息:sweat: 这个期刊比较正规，就是Iran本土文章为主，一旦接收，有主编签字的录用证明，直接明确哪一期出版。唯一问题是从接收到出版时间长，估计要一年，不过大部分期刊都面临这个问题 时间都比较慢的，不知你现在接到回复没有，
我觉得这在不是水的杂志中是，属于正常。
有的外国人办事真是慢（非欧美的，个人体验），但是最后也给了回应，只是，太慢。。。 知道该杂志的同志，问一问此杂志从修改反馈到接收一般多长时间啊？ 同感，我的稿件在Manuscript Assigned to Reviewers保持了3个月了，没有一点消息。改如何处理呢，请赐教。 Manuscript Assigned to Reviewers&&保持快 7个月了,想想已经等了这么长,还是没催！ 我2013年3月提交到journal of agricultural science and technology的一篇论文，到11月accepted to on line press，2014年6月底，收到了proof，确定了在2014年出版，但是没有确定期数。期间，也发信问过，没有回音。 : Originally posted by cliffjingboguo at
我2013年3月提交到journal of agricultural science and technology的一篇论文，到11月accepted to on line press，2014年6月底，收到了proof，确定了在2014年出版，但是没有确定期数。期间，也发信问过，没有回音。 请问你的文章现在已经出版了吗？在2014年哪一期出版的？&& 查看话题
Semiconductor Science and Technology
大家好，小弟第一次投文章，经验不足啊，这次投得是Semiconductor Science and Technology，格式这些按照要求做好了，可是TIFF格式的图片一张就有10多M，这个应该怎么办才好，另外还有什么需要注意的啊！希望各位多多帮助！！提点在下！谢谢！
用“画图”软件处理一下。
先打开图片，按键盘上“Prtsc Sys Rq”键，再拷贝到“画图”软件里，剪切一下后，再另存为，就OK了。 想请教一下楼主 这个杂志审稿周期一般多久啊 投稿的难易程度如何啊&&还有就是楼主有这个期刊的投稿模板吗 麻烦给我发一份吧 我的邮箱 非常感谢 不好意思啊！我也是刚投出去的，没有模板呢，我就是按照IOP主页上给的一个格式要求来弄的。我国庆前投出去的，现在还没有任何消息啊！焦急的等待中呢！ 我投出去了一个月了，但是现在还是杳无音讯的，非常的着急。完全不知道怎么办啊！ : Originally posted by kongjzh at
用“画图”软件处理一下。
先打开图片，按键盘上“Prtsc Sys Rq”键，再拷贝到“画图”软件里，剪切一下后，再另存为，就OK了。 2楼的方法不太好，分辨率和格式都变了，有些杂志对图的分辨率和格式有明确要求的。
其实在用origin导出tiff或用photoshop另存为tiff的时候会有些选项的，做到以下几点tiff格式的图就会很小了：
2、如果是黑白的图，选单色或灰度；如果是彩色的图，尽可能颜色数选少一些，16种颜色对于绝大多数origin做出的图来说已经足够了。
3、photoshop处理时先把所有图层都合并了。 : Originally posted by yunzhibiduan at
大家好，小弟第一次投文章，经验不足啊，这次投得是Semiconductor Science and Technology，格式这些按照要求做好了，可是TIFF格式的图片一张就有10多M，这个应该怎么办才好，另外还有什么需要注意的啊！希望各位 ... 如果是origin输出的图的话，可以用LZW压缩，基本上杂志都能识别。只能用LZW压缩！ 许多期刊接受EPS格式图片。看看该期刊是否可以采用EPS图片格式，用这个格式文件就非常的小，假如10M的TIFF图，可能只有不到100K。尝试一下吧 lz，我说的第一条压缩，指的就是楼下说的lzw压缩，这个在origin或photoshop中都有选项的。如果能做到我说的那几点，图片不可能有十来兆的，一般也就一百来K。 请问楼主最后中了吗？怎么我投了一礼拜了，查不出任何状态。显示new article.也不知道有没有送审？请问您投稿时能看到送审的状态吗？谢谢 请问，这个杂志大类分区为几区啊？怎么我查到的结果有的说二区，有的说三区呢？比较着急，想投一个二区的。谢谢。 : Originally posted by autumntz at
请问，这个杂志大类分区为几区啊？怎么我查到的结果有的说二区，有的说三区呢？比较着急，想投一个二区的。谢谢。 SCI E级，就是比较差的 : Originally posted by yunzhibiduan at
SCI E级，就是比较差的... E级是什么意思呢，我不知道这种分类。是属于二区吗？semiconductor science and technology 收版面费吗_百度知道
semiconductor science and technology 收版面费吗
提问者采纳
acoustic microscopy techniques，你可以询问一下编辑. The structural. Physics of semiconductor electronic and optoelectronic devices, optical emission microscopy.g; all multi-layered structures involving semiconductor components: electrical an failure analysis and advanced analysis techniques such as SEM; and semiconductor structures incorporating Langmuir- Blodgett films. Relevant areas of &#39,molecular electronics&#39, electrical. Materials and device reliability。 期刊名
semiconductor science and technology
出版周期, electrical and optical characterization of materials and device structures. Papers will normally be categorized under one of four headings.723
1. Experimental and theoretical studies of the structural：
杂志简介/ liqui all aspects of the technology of semiconductor device and circuit fabrication。
ISSN号, including theoretical modelling and experimental demonstration, including charge migration. Dopant incorporation, devices, oxide breakdown, including both epitaxial (e; effects of operational and environmental stresses on reliability, lithography and metallization where they are concerned with the definition of small geometry structure, including the physics and chemistry of heterojunctions.921
reliability indicators, low-dimensional and amorphous semiconductors: 月刊
中科院杂志分区
材料科学:2013年度
2, optical and acoustica稿件收录要求
Subject coverage. Growth and preparation of materials, also included are appropriate aspects of surface science such as the influence of growth kinetics and chemical processing on layer and device properties：综合分类下的 3 区期刊
近四年SCI 影响因子，应该是不要版面费的, stress migration, reliability predi package- related failure mechanisms, electro- failure mechanisms, E- computational s in situ monitoring of epitaxial growth processes, crystal growth and materials.206
1, metal-semiconductor and insulator-sem noise measurement. molecular beam and chemical vapour methods) and bulk techniques, and reliability.323
出版社或管理机构
IOP PUBLISHING LTD
出版或管理; resists, trapping: reliability evaluation of technologies如果不选open
来自团队：
其他类似问题
为您推荐：
版面费的相关知识
其他1条回答
等待您来回答
下载知道APP
随时随地咨询
出门在外也不愁商品编号：
京 东 价：
白条分期：
在线客服：
服务支持：
Comprehensive Semiconductor Science and ...
加载中，请稍候...
商品介绍加载中...
扫一扫，精彩好书免费看
服务承诺：
京东平台卖家销售并发货的商品，由平台卖家提供发票和相应的售后服务。请您放心购买！
注：因厂家会在没有任何提前通知的情况下更改产品包装、产地或者一些附件，本司不能确保客户收到的货物与商城图片、产地、附件说明完全一致。只能确保为原厂正货！并且保证与当时市场上同样主流新品一致。若本商城没有及时更新，请大家谅解！
权利声明：京东上的所有商品信息、客户评价、商品咨询、网友讨论等内容，是京东重要的经营资源，未经许可，禁止非法转载使用。
注：本站商品信息均来自于合作方，其真实性、准确性和合法性由信息拥有者（合作方）负责。本站不提供任何保证，并不承担任何法律责任。
加载中，请稍候...
加载中，请稍候...
加载中，请稍候...
加载中，请稍候...
加载中，请稍候...
加载中，请稍候...
加载中，请稍候...
浏览了该商品的用户还浏览了
加载中，请稍候...
价　格： 到
　　　
iframe(src='///ns.html?id=GTM-T947SH', height='0', width='0', style='display: visibility:')