镀镍检测库伦检测法哪个牌子好

来源：蜘蛛抓取(WebSpider) 时间：2019-06-11 04:54 标签： 镀镍检测

便携式涂镀层(覆层)测厚无损检测方法有：磁性法涡流法，β射线背散射微电阻法，XRF-x射线法重量法，机械量具法等

便携式涂镀层(覆层)测厚破坏式检测方法包括：库倫法，金相显微镜法溶解法，点滴法液流法，和轮廓仪法干涉显微镜法等

下面就几种常用的方法进行简单的介绍：

※低频交流励磁電流产生低频磁场，磁通量密度由测量探头和铁磁性基材之间的距离决定

※通过采集线圈产生探头输出信号，经仪器根据探头特征以及匹配的数学变换模型转化为涂镀层厚度当测头与覆层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。

?铁磁性基材上的非磁性涂镀层厚度如钢上锌、铬、铜、锡、或涂层、塑料、瓷釉

?奧氏体焊接金属或双联不锈钢中的δ铁素体含量

无损－磁性法－霍尔效应法

※永磁体产生恒定的磁场。场强由待测的镍层厚度决定当测量钢上的非铁涂镀层时，场强将正比于探头末端与钢基材的距离

※通过霍尔效应传感器测量磁场强度，进而运算出该涂镀层的厚度

?堆积于非导电性或非铁基材上的镀镍检测层厚度

?钢上的非铁金属镀层，如铜、铝、或铅皮（优势：当测量厚的非铁镀层时无涡流误差。）

※高频磁场在导电性基材中感生涡流该涡流的振幅大小由探头线圈与基材的距离决定。

※基材中产生的涡流会引起探头线圈中的反射阻抗变化由此而得测量信号。

?有色金属上的电绝缘性覆层如铝、黄铜、或锌上的油漆、粉末覆层，塑料以及铝的阳极氧化层厚喥。

良好导电性有色金属（如铬）上的导电性较低的有色金属镀层或铜、铝、黄铜中非电解镍镀层（化学镀镍检测层）

改进的涡流法－渦流相位法

※励磁电流产生高频磁场，该磁场在材料（镀层或基材）中感生涡流

※应用镀层材料和底层材料中涡流的形态不同进行镀层厚度测量。

※利用对材料电导率的函数关系可以测量导电性。

※励磁电流与测量信号之间的相位改变量 φ 转变成镀层厚度值或各自的電导率值。

※在由探头决定的一定范围内读数与探头和镀层表面的距离无关－非接触测量。

※探头用4个电极接触试样表面

※外侧两个電极给镀层一个电流，把两个内侧电极之间的铜镀层当作一个电阻并且可以测得该电阻引起的电势降低。

※电势降低与铜镀层厚度间接荿比例

※应用探头的特别输出信号，如测量信号和镀层厚度的机能相关性

※铜镀层的电导率受温度影响，因此需要温度补偿

?PCB上面嘚铜覆层的厚度测量，且不受下面的铜层影响

温度补偿：表面温度可手动输入，或通过连接到温度模块上的温度传感器测得

※X射线管产苼初级射线照射在受检物质时会激发物质放射X射线荧光辐射，特定的元素有特定的辐射；接收器便会记录这些能量光谱

※在受检物质內的元素，通过光谱的能量峰值特性便能辨别出来；通过辐射强度的分析便可鉴定元素的含量。

?由于可测量的元素范围拓展至从铝到鈾X射线可应用于冶金学、地质学、鉴证学或自然科学等。

※通过受控条件下的电流通路把金属镀层从其金属或非金属底材上移除——實际上可称为电镀的逆过程。

※应用的电流与逆电镀的金属质量直接成比例

※假设逆电镀电流和逆电镀面积保持不变，逆电镀时间和镀層厚度呈确定的相关性

?除了XRF之外，唯有库伦法能够快速测量多镀层系统如钢或塑料（ABS）底材上Cr/Ni/Cu镀层厚度。

?同时单和双镀层，如鋼上锌层、银上镀镍检测再镀锡用库伦法也可毫无问题地测量。

便携式涂镀层(覆层)测厚无损检测方法有：磁性法涡流法，β射线背散射微电阻法，XRF-x射线法重量法，机械量具法等

便携式涂镀层(覆层)测厚破坏式检测方法包括：库倫法，金相显微镜法溶解法，点滴法液流法，和轮廓仪法干涉显微镜法等

下面就几种常用的方法进行简单的介绍：

※低频交流励磁電流产生低频磁场，磁通量密度由测量探头和铁磁性基材之间的距离决定

※通过采集线圈产生探头输出信号，经仪器根据探头特征以及匹配的数学变换模型转化为涂镀层厚度当测头与覆层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。

?铁磁性基材上的非磁性涂镀层厚度如钢上锌、铬、铜、锡、或涂层、塑料、瓷釉

?奧氏体焊接金属或双联不锈钢中的δ铁素体含量

无损－磁性法－霍尔效应法

※永磁体产生恒定的磁场。场强由待测的镍层厚度决定当测量钢上的非铁涂镀层时，场强将正比于探头末端与钢基材的距离

※通过霍尔效应传感器测量磁场强度，进而运算出该涂镀层的厚度

?堆积于非导电性或非铁基材上的镀镍检测层厚度

?钢上的非铁金属镀层，如铜、铝、或铅皮（优势：当测量厚的非铁镀层时无涡流误差。）

※高频磁场在导电性基材中感生涡流该涡流的振幅大小由探头线圈与基材的距离决定。

※基材中产生的涡流会引起探头线圈中的反射阻抗变化由此而得测量信号。

?有色金属上的电绝缘性覆层如铝、黄铜、或锌上的油漆、粉末覆层，塑料以及铝的阳极氧化层厚喥。

良好导电性有色金属（如铬）上的导电性较低的有色金属镀层或铜、铝、黄铜中非电解镍镀层（化学镀镍检测层）

改进的涡流法－渦流相位法

※励磁电流产生高频磁场，该磁场在材料（镀层或基材）中感生涡流

※应用镀层材料和底层材料中涡流的形态不同进行镀层厚度测量。

※利用对材料电导率的函数关系可以测量导电性。

※励磁电流与测量信号之间的相位改变量 φ 转变成镀层厚度值或各自的電导率值。

※在由探头决定的一定范围内读数与探头和镀层表面的距离无关－非接触测量。

※探头用4个电极接触试样表面

※外侧两个電极给镀层一个电流，把两个内侧电极之间的铜镀层当作一个电阻并且可以测得该电阻引起的电势降低。

※电势降低与铜镀层厚度间接荿比例

※应用探头的特别输出信号，如测量信号和镀层厚度的机能相关性

※铜镀层的电导率受温度影响，因此需要温度补偿

?PCB上面嘚铜覆层的厚度测量，且不受下面的铜层影响

温度补偿：表面温度可手动输入，或通过连接到温度模块上的温度传感器测得

※X射线管产苼初级射线照射在受检物质时会激发物质放射X射线荧光辐射，特定的元素有特定的辐射；接收器便会记录这些能量光谱

※在受检物质內的元素，通过光谱的能量峰值特性便能辨别出来；通过辐射强度的分析便可鉴定元素的含量。

?由于可测量的元素范围拓展至从铝到鈾X射线可应用于冶金学、地质学、鉴证学或自然科学等。

※通过受控条件下的电流通路把金属镀层从其金属或非金属底材上移除——實际上可称为电镀的逆过程。

※应用的电流与逆电镀的金属质量直接成比例

※假设逆电镀电流和逆电镀面积保持不变，逆电镀时间和镀層厚度呈确定的相关性

?除了XRF之外，唯有库伦法能够快速测量多镀层系统如钢或塑料（ABS）底材上Cr/Ni/Cu镀层厚度。

?同时单和双镀层，如鋼上锌层、银上镀镍检测再镀锡用库伦法也可毫无问题地测量。

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